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　　Olympus測厚儀可以使用所有單晶和雙晶探頭進行操作。Olympus測厚儀會自動識別標準雙晶探頭，還會自動導入適當?shù)捻斚榷x的設(shè)置。預(yù)先定義的設(shè)置中包含隨儀器附送的不銹鋼階梯試塊的超聲聲速。在使用雙晶探頭時，需要進行探頭零位補償。對于單晶或高穿透軟件選項，以及單晶探頭，需要手動調(diào)用適當?shù)脑O(shè)置。測厚儀出廠時已根據(jù)用戶所購探頭配置了默認設(shè)置，這些設(shè)置使用隨機附送的不銹鋼試塊的大約聲速。為便于用戶使用，Olympus測厚儀中的默認狀態(tài)已被選好。
 

　　Olympus測厚儀校準：
 

　　校準是使用已知探失，在特定的溫度下，針對某種材料，以進行測量為目的而對儀器進行調(diào)整的過程。在檢測某種特殊材料之前，經(jīng)常需要校準儀器。測量度與儀器進行校準時的度*相同。
 

　　需要進行以下三種類型的校準:
 

　　探頭零位補償〔[零位補償]鍵)
 

　　只用于雙晶探頭，校準聲束在每個雙晶探頭延遲塊中的傳播時間。這個補償值針對不同的探頭有所不同，且隨溫度而變化。啟動測厚儀、更換探頭或探頭溫度有顯著變化時，必須進行探頭零位補償。
 

　　材料聲速校準([校準聲速]鍵)
 

　　校準材料聲速需使用一個帶有己知厚度且材料與被測上件相同的厚試塊進行，或者以手動方式輸入一個以前確定的材料聲速。測量每一種新材料時，都需進行這項操作。
 

　　零位校準([校準零位]鍵)
 

　　進行零位校準需使用一個帶有己知厚度且材料與被測上件相同的薄試塊。與探頭零位補償和材料聲速校準不同的是，零位校準操作只有在需要高精度時才有必要進行(度高于±0.10毫米)。只需在使用新的探頭和材料組合時進行一次零位校準。當探頭溫度變化時，不需要重復(fù)零位校準，但要進行探頭零位補償。